手把手教你用DM软件处理EELS数据（第一式）：零损失峰校准和背底扣除
DigitalMicrograph（简称DM）由Gatan公司开发，是TEM领域最常用的数据分析软件，用于处理和分析TEM图像和谱图。对于许多刚接触EELS数据分析的研究者来说，如何系统地在DM中处理EELS谱图往往是一道门槛。
一、零损失峰（ZLP）对齐与校准
零损失峰（ZLP）是EELS谱图中能量损失为零处的特征峰，代表了未发生非弹性散射的电子。准确对齐ZLP是所有后续处理的基础——峰位偏移会导致能量刻度错误，进而影响元素识别和定量分析的准确性。
2.1 ZLP对齐和校准有两个方法：
方法1（手动校准）：
·打开一个spectrum，按ctrl将零峰拖宽，这样可以清晰看到ZLP最高点的位置，在最高点位置鼠标左击，在spectrum菜单中选择“calibrate”，在channel energy-loss手动输入0 eV，校准零峰。
方法2（自动校准）：
·采集谱图后，选中ZLP左右两侧的能量区间（区间范围内一定要包含0 eV），在SI菜单中选择“Align SI by Peak”，将所有谱图对齐到ZLP位置。
实用技巧：对于core-loss谱图的分析，建议在对齐ZLP后再进行后续的背底扣除和解卷积操作，否则边缘位置的不准确会严重影响定量结果。
二、背底扣除（Background Subtraction）
EELS谱图中，电离边（core-loss edge）之前存在一个随能量增加而衰减的背底（Background）信号，主要来源于多重非弹性散射和低能损失电子的尾部贡献。扣除背底是提取净电离边信号的第一步。
2.1 单峰背底扣除
操作步骤：
1.在DM中打开待处理的EELS谱图。
2.在电离边之前的能量区域（pre-edge window），按住Ctrl键，用鼠标左键从左向右拖拽一个矩形区域。
3.松开鼠标后，软件会自动用幂律（power-law）模型拟合背底。会看到一条红色曲线代表拟合出的背底，一条绿色曲线代表扣除背底后的净信号。
4.在EELS菜单中选择Extract→Signal，将扣除背底后的信号提取为一个新的EELS谱图。
注意事项：选择背底拟合窗口时，窗口的宽度和位置对结果有显著影响。窗口应避开电离边本身，且尽量选在背底曲线平滑的区域。一般来说，窗口宽度在30~50 eV左右比较合适。
2.2 多次背底扣除
当谱图中存在多个电离边时，需要依次扣除。正确的方法是从右往左扣，即从能量最高的电离边开始，逐步向低能方向处理。
原因：幂律拟合的参数在不同的能量区间是不同的。先用低能区拟合的参数去扣除高能边，会导致扣除误差积累。
操作步骤（以两个峰为例）：
1.在原始谱图中，对能量较高的电离边（如Fe的L3边）进行背底扣除，提取净信号，生成“Extracted Signal”谱。
2.在“Extracted Signal”谱中，对能量较低的电离边（如O的K边）再次进行背底扣除。
