仪器设备

设备功能分类-科技支撑

• 表面分析
  • 分子束外延与原位表面分析
    高通量激光分子束外延(LMBE) 角分辨光电子能谱(ARPES) 反射式高能电子衍射(RHEED) 低能电子衍射(LEED) X射线光电子谱(XPS) 扫描隧道显微镜(STM) 高通量氧化物分子束外延(OxMBE)
    高通量薄膜样品制备
    高通量激光分子束外延(LMBE) 高通量氧化物分子束外延(OxMBE)
    低温原位能带-形貌-输运-组分-价态联合分析
    扫描隧道显微镜(STM) X射线光电子能谱(XPS) 角分辨光电子能谱(ARPES)
    高分辨三维自旋电子能带分析
    角分辨光电子能谱(ARPES)
    样品形貌-输运-界面电子态分析
    扫描隧道显微镜(STM)
    材料组分分布-价态-深度剖析
    X射线光电子谱(XPS)
• 微区分析
  • 微区形貌-粒径-三维尺寸分析
    高分辨冷场发射扫描电子显微镜(SEM) 高分辨分析型场发射扫描电镜（SEM） 场发射环境扫描电镜（SEM） 环境控制原子力显微镜(AFM) 高分辨薄膜XRD(HR-TF XRD)
    微区成分分析
    高分辨冷场发射扫描电子显微镜(SEM) 高分辨分析型场发射扫描电镜（SEM） 场发射环境扫描电镜（SEM） 高分辨薄膜XRD(HR-TF XRD)
    微区结构分析
    高分辨分析型场发射扫描电镜（SEM） 环境控制原子力显微镜(AFM) 快速成像显微拉曼光谱仪(Mirco-Raman) 傅里叶变换显微红外光谱仪(FTIR)
    微区缺陷分析
    环境控制原子力显微镜(AFM) 高分辨分析型场发射扫描电镜（SEM）
    微区电学-磁学-摩擦学-力学等分析
    环境控制原子力显微镜(AFM)
• 成分分析
  • 有机成分分析
    双微焦斑单晶XRD(SCD) 液态金属靶单晶XRD(MJ SCD) 高分辨透射及PDF散射系统(PDF) X射线光电子谱(XPS)
    无机成分分析
    X射线多晶衍射仪(PXRD) 原位XRD(in-situ XRD) X射线光电子谱(XPS)
    元素分析
    高分辨冷场发射扫描电子显微镜(SEM) 高分辨分析型场发射扫描电镜（SEM） 场发射环境扫描电镜（SEM） X射线光电子谱(XPS) X射线荧光光谱仪(XRF)
    定量分析
    X射线多晶衍射仪(PXRD) 原位XRD(in-situ XRD) 高分辨透射及PDF散射系统(PDF) X射线光电子谱(XPS)
• 结构鉴定
  • 有机化合物结构分析
    双微焦斑单晶XRD(SCD) 液态金属靶单晶XRD(MJ SCD) 高分辨透射及PDF散射系统(PDF)
    无机材料结构分析
    X射线多晶衍射仪(PXRD) 原位XRD(in-situ XRD)
    生物分子结构分析
    双微焦斑单晶XRD(SCD) 液态金属靶单晶XRD(MJ SCD) 高分辨透射及PDF散射系统(PDF)
    晶胞参数-晶型分析
    X射线多晶衍射仪(PXRD) 双微焦斑单晶XRD(SCD) 液态金属靶单晶XRD(MJ SCD) 高分辨透射及PDF散射系统(PDF)
    晶体取向-织构分析
    高分辨分析型场发射扫描电镜（SEM） 劳厄背散射仪(Laue)
• 物性分析
  • 极低温强磁场物性分析
    无液氦综合物性测量系统(PPMS DynaCool) 无液氦稀释制冷机(Triton-500) 无液氦制冷机(Teslatron PT14T50mm) 低温探针台(CRX-4K) 磁学测量系统（MPMS3）
    热学性能分析
    无液氦综合物性测量系统(PPMS DynaCool) 无液氦稀释制冷机(Triton-500) 无液氦制冷机(Teslatron PT14T50mm) 同步热分析仪(TGA-DSC) 差示扫描量热仪(DSC) 低温闪射法导热仪(LFA) 高温闪射法导热仪(LFA HT) 等温滴定微量热仪(ITC) 动态热机械分析仪 旋转流变仪
    力学性能分析
    电子万能试验机 旋转流变仪 动态热机械分析仪
    电学性能分析
    塞贝克系数/电阻测量系统 无液氦综合物性测量系统(PPMS DynaCool) 无液氦稀释制冷机(Triton-500) 无液氦制冷机(Teslatron PT14T50mm) 低温探针台(CRX-4K) 电化学工作站 紫外-可见光谱电化学测试系统
    磁学性能分析
    磁学测量系统（MPMS3）
    光学性能分析
    广角动态光散射仪(WADLS)
    粒度、密度、弛豫、扩散分析
    广角动态光散射仪(WADLS)
    应力、应变分析
    原位XRD(in-situ XRD) 高分辨薄膜XRD(HR-TF XRD) 动态热机械分析仪
    荧光寿命分析
    瞬态/稳态荧光光谱仪(FLS)
    比表面积、孔隙率、孔径分析
    比表面积及孔隙分析仪
• 原位分析
  • 催化及合成过程分析
    原位XRD(in-situ XRD)
    动力学分析
    场发射环境扫描电镜（SEM） 差示扫描量热仪(DSC) 原位XRD(in-situ XRD)
    原位电化学分析
    环境控制原子力显微镜(AFM) 电化学工作站 原位XRD(in-situ XRD)
    变温相变、反应分析
    场发射环境扫描电镜（SEM） 原位XRD(in-situ XRD)
    超高真空材料原位生长及分析
    高通量激光分子束外延(LMBE) 角分辨光电子能谱(ARPES) 反射式高能电子衍射(RHEED) 低能电子衍射(LEED) X射线光电子谱(XPS) 扫描隧道显微镜(STM) 高通量氧化物分子束外延(OxMBE)
• 样品制备
  • 电镜样品制备
    离子溅射镀膜仪 徕卡高真空镀膜仪 离子研磨仪
    薄膜、块体样品制备
    高通量激光分子束外延(LMBE) 高通量氧化物分子束外延(OxMBE) 光学浮区炉(OFZ) 真空自动封管系统

设备功能分类-科技支撑

设备功能分类-产业支撑

• 先进材料分析
  • 拓扑量子材料分析
    无液氦综合物性测量系统(PPMS DynaCool) 高分辨冷场发射扫描电子显微镜(SEM) 高分辨分析型场发射扫描电镜(SEM) 无液氦稀释制冷机(Triton-500) 角分辨光电子能谱(ARPES) 环境控制原子力显微镜(AFM) 无液氦制冷机(Teslatron PT14T50mm) 反射式高能电子衍射(RHEED) 低温探针台(CRX-4K) 低能电子衍射(LEED) X射线光电子谱(XPS) 扫描隧道显微镜(STM) X射线多晶衍射仪(PXRD)
    超导材料分析
    无液氦综合物性测量系统(PPMS DynaCool) 高分辨冷场发射扫描电子显微镜(SEM) 高分辨分析型场发射扫描电镜(SEM) 磁学测量系统(MPMS 3) 无液氦稀释制冷机(Triton-500) 角分辨光电子能谱(ARPES) 环境控制原子力显微镜(AFM) 无液氦制冷机(Teslatron PT14T50mm) 反射式高能电子衍射(RHEED) 低温探针台(CRX-4K) 低能电子衍射(LEED) X射线光电子谱(XPS) 扫描隧道显微镜(STM) X射线多晶衍射仪(PXRD)
    热电及磁性材料分析
    无液氦综合物性测量系统(PPMS DynaCool) 塞贝克系数/电阻测量系统 磁学测量系统(MPMS 3) 无液氦稀释制冷机(Triton-500) 环境控制原子力显微镜(AFM) 无液氦制冷机(Teslatron PT14T50mm) 同步热分析仪(TGA-DSC) X射线光电子谱(XPS) 差示扫描量热仪(DSC) 低温闪射法导热仪(LFA) X射线多晶衍射仪(PXRD) 高温闪射法导热仪(LFA HT)
    金属材料分析
    无液氦综合物性测量系统(PPMS DynaCool) 高分辨冷场发射扫描电子显微镜(SEM) 磁学测量系统(MPMS 3) 高分辨分析型场发射扫描电镜(SEM) 无液氦稀释制冷机(Triton-500) 环境控制原子力显微镜(AFM) 无液氦制冷机(Teslatron PT14T50mm) 同步热分析仪(TGA-DSC) 差示扫描量热仪(DSC) X射线光电子谱(XPS) X射线多晶衍射仪(PXRD) 高温闪射法导热仪(LFA HT) 电子万能试验机 电感耦合等离子体质谱(ICP-MS)
    纳米材料分析
    比表面积及孔隙分析仪 高分辨冷场发射扫描电子显微镜(SEM) 广角动态光散射仪(WADLS) 瞬态/稳态荧光光谱仪(FLS) 高分辨分析型场发射扫描电镜(SEM) 流变仪 环境控制原子力显微镜(AFM) 角分辨光电子能谱(ARPES) 反射式高能电子衍射(RHEED) 同步热分析仪(TGA-DSC) 低能电子衍射(LEED) 差示扫描量热仪(DSC) X射线光电子谱(XPS) 扫描隧道显微镜(STM) 电子万能试验机 X射线小角散射仪(SAXS) 低温闪射法导热仪(LFA)
    新能源材料分析
    比表面积及孔隙分析仪 高分辨冷场发射扫描电子显微镜(SEM) 高分辨分析型场发射扫描电镜(SEM) 环境控制原子力显微镜(AFM) 同步热分析仪(TGA-DSC) 差示扫描量热仪(DSC) X射线光电子谱(XPS) 电化学工作站 紫外-可见光谱电化学测试系统 高温闪射法导热仪(LFA HT) X射线多晶衍射仪(PXRD) 低温闪射法导热仪(LFA)
    高分子材料分析
    高分辨冷场发射扫描电子显微镜(SEM) 广角动态光散射仪(WADLS) 瞬态/稳态荧光光谱仪(FLS) 高分辨分析型场发射扫描电镜(SEM) 环境控制原子力显微镜(AFM) 同步热分析仪(TGA-DSC) 差示扫描量热仪(DSC) X射线光电子谱(XPS) 动态热机械分析仪 旋转流变仪 电子万能试验机 X射线小角散射仪(SAXS) 低温闪射法导热仪(LFA)
    生物功能材料分析
    广角动态光散射仪(WADLS) 瞬态/稳态荧光光谱仪(FLS) 流变仪 同步热分析仪(TGA-DSC) 差示扫描量热仪(DSC) X射线多晶衍射仪(PXRD) 等温滴定微量热仪(ITC) 电子万能试验机 双微焦斑单晶XRD(SCD) 液态金属靶单晶XRD(MJ SCD) 低温闪射法导热仪(LFA)

设备功能分类-产业支撑