角分辨光电子能谱（ARPES）-西湖大学物质科学公共实验平台

Language

仪器预约手机微信

当前位置: 首页 >> 仪器设备 >> 正文

仪器设备

设备功能分类-科技支撑

表面分析
- 分子束外延与原位表面分析
  
  高通量激光分子束外延(LMBE) 角分辨光电子能谱(ARPES) 反射式高能电子衍射(RHEED) 低能电子衍射(LEED) X射线光电子谱(XPS) 扫描隧道显微镜(STM) 高通量氧化物分子束外延(OxMBE)
  
  高通量薄膜样品制备
  
  高通量激光分子束外延(LMBE) 高通量氧化物分子束外延(OxMBE)
  
  低温原位能带-形貌-输运-组分-价态联合分析
  
  扫描隧道显微镜(STM) X射线光电子能谱(XPS) 角分辨光电子能谱(ARPES)
  
  高分辨三维自旋电子能带分析
  
  角分辨光电子能谱(ARPES)
  
  样品形貌-输运-界面电子态分析
  
  扫描隧道显微镜(STM)
  
  材料组分分布-价态-深度剖析
  
  X射线光电子能谱(XPS)
微区分析
- 微区形貌-粒径-三维尺寸分析
  
  高分辨冷场发射扫描电子显微镜(SEM) 高分辨分析型场发射扫描电镜（SEM）场发射环境扫描电镜（SEM）环境控制原子力显微镜(AFM) 高分辨薄膜XRD(HR-TF XRD)
  
  微区成分分析
  
  高分辨冷场发射扫描电子显微镜(SEM) 高分辨分析型场发射扫描电镜（SEM）场发射环境扫描电镜（SEM）高分辨薄膜XRD(HR-TF XRD)
  
  微区结构分析
  
  高分辨分析型场发射扫描电镜（SEM）环境控制原子力显微镜(AFM)
  
  微区缺陷分析
  
  环境控制原子力显微镜(AFM) 高分辨分析型场发射扫描电镜（SEM）
  
  微区电学-磁学-摩擦学-力学等分析
  
  环境控制原子力显微镜(AFM)
成分分析
- 有机成分分析
  
  双微焦斑单晶XRD(SCD) 液态金属靶单晶XRD(MJ SCD) 高分辨透射及PDF散射系统(PDF) X射线光电子谱(XPS)
  
  无机成分分析
  
  X射线多晶衍射仪(PXRD) 原位XRD(in-situ XRD) X射线光电子谱(XPS)
  
  元素分析
  
  高分辨冷场发射扫描电子显微镜(SEM) 高分辨分析型场发射扫描电镜（SEM）场发射环境扫描电镜（SEM） X射线光电子谱(XPS) X射线荧光光谱仪(XRF)
  
  定量分析
  
  X射线多晶衍射仪(PXRD) 原位XRD(in-situ XRD) 高分辨透射及PDF散射系统(PDF) X射线光电子谱(XPS)
结构鉴定
- 有机化合物结构分析
  
  双微焦斑单晶XRD(SCD) 液态金属靶单晶XRD(MJ SCD) 高分辨透射及PDF散射系统(PDF)
  
  无机材料结构分析
  
  X射线多晶衍射仪(PXRD) 原位XRD(in-situ XRD)
  
  生物分子结构分析
  
  双微焦斑单晶XRD(SCD) 液态金属靶单晶XRD(MJ SCD) 高分辨透射及PDF散射系统(PDF)
  
  晶胞参数-晶型分析
  
  X射线多晶衍射仪(PXRD) 双微焦斑单晶XRD(SCD) 液态金属靶单晶XRD(MJ SCD) 高分辨透射及PDF散射系统(PDF)
  
  晶体取向-织构分析
  
  高分辨分析型场发射扫描电镜（SEM）劳厄背散射仪(Laue)
物性分析
- 极低温强磁场物性分析
  
  无液氦综合物性测量系统(PPMS DynaCool) 无液氦稀释制冷机(Triton-500) 低温探针台(CRX-4K) 磁学测量系统（MPMS3）无液氦制冷机（TeslatronPT））
  
  热学性能分析
  
  无液氦综合物性测量系统(PPMS DynaCool) 同步热分析仪(TGA-DSC) 差示扫描量热仪(DSC) 低温闪射法导热仪(LFA) 高温闪射法导热仪(LFA HT) 等温滴定微量热仪(ITC) 动态热机械分析仪旋转流变仪
  
  力学性能分析
  
  电子万能试验机旋转流变仪动态热机械分析仪
  
  电学性能分析
  
  塞贝克系数/电阻测量系统无液氦综合物性测量系统(PPMS DynaCool) 无液氦稀释制冷机(Triton-500) 低温探针台(CRX-4K) 电化学工作站紫外-可见光谱电化学测试系统无液氦制冷机（TeslatronPT-14T））
  
  磁学性能分析
  
  磁学测量系统（MPMS3）综合物性测量系统（PPMS-16T)）
  
  光学性能分析
  
  广角动态光散射仪(WADLS)
  
  粒度、密度、弛豫、扩散分析
  
  广角动态光散射仪(WADLS)
  
  应力、应变分析
  
  原位XRD(in-situ XRD) 高分辨薄膜XRD(HR-TF XRD) 动态热机械分析仪
  
  荧光寿命分析
  
  比表面积、孔隙率、孔径分析
  
  比表面积及孔隙分析仪
原位分析
- 催化及合成过程分析
  
  原位XRD(in-situ XRD)
  
  动力学分析
  
  场发射环境扫描电镜（SEM）差示扫描量热仪(DSC) 原位XRD(in-situ XRD)
  
  原位电化学分析
  
  环境控制原子力显微镜(AFM) 电化学工作站原位XRD(in-situ XRD)
  
  变温相变、反应分析
  
  场发射环境扫描电镜（SEM）原位XRD(in-situ XRD)
  
  超高真空材料原位生长及分析
  
  高通量激光分子束外延(LMBE) 角分辨光电子能谱(ARPES) 反射式高能电子衍射(RHEED) 低能电子衍射(LEED) X射线光电子谱(XPS) 扫描隧道显微镜(STM) 高通量氧化物分子束外延(OxMBE)
样品制备
- 电镜样品制备
  
  离子溅射镀膜仪徕卡高真空镀膜仪离子研磨仪
  
  薄膜、块体样品制备
  
  高通量激光分子束外延(LMBE) 高通量氧化物分子束外延(OxMBE) 光学浮区炉(OFZ) 真空自动封管系统

设备功能分类-科技支撑

表面分析

分子束外延与原位表面分析

高通量薄膜样品制备

低温原位能带-形貌-输运-组分-价态联合分析

高分辨三维自旋电子能带分析

角分辨光电子能谱(ARPES)

样品形貌-输运-界面电子态分析

扫描隧道显微镜(STM)

材料组分分布-价态-深度剖析

X射线光电子能谱(XPS)

微区分析

微区形貌-粒径-三维尺寸分析

微区成分分析

微区结构分析

微区缺陷分析

微区电学-磁学-摩擦学-力学等分析

环境控制原子力显微镜(AFM)

成分分析

有机成分分析

无机成分分析

元素分析

定量分析

结构鉴定

有机化合物结构分析

无机材料结构分析

生物分子结构分析

晶胞参数-晶型分析

晶体取向-织构分析

物性分析

极低温强磁场物性分析

热学性能分析

力学性能分析

电学性能分析

磁学性能分析

光学性能分析

广角动态光散射仪(WADLS)

粒度、密度、弛豫、扩散分析

广角动态光散射仪(WADLS)

应力、应变分析

荧光寿命分析

比表面积、孔隙率、孔径分析

比表面积及孔隙分析仪

原位分析

催化及合成过程分析

原位XRD(in-situ XRD)

动力学分析

原位电化学分析

变温相变、反应分析

超高真空材料原位生长及分析

样品制备

电镜样品制备

薄膜、块体样品制备

设备功能分类-产业支撑

先进材料分析
- 拓扑量子材料分析
  
  无液氦综合物性测量系统(PPMS DynaCool) 高分辨冷场发射扫描电子显微镜(SEM) 高分辨分析型场发射扫描电镜(SEM) 无液氦稀释制冷机(Triton-500) 角分辨光电子能谱(ARPES) 环境控制原子力显微镜(AFM) 无液氦制冷机(Teslatron PT14T50mm) 反射式高能电子衍射(RHEED) 低温探针台(CRX-4K) 低能电子衍射(LEED) X射线光电子谱(XPS) 扫描隧道显微镜(STM) X射线多晶衍射仪(PXRD)
  
  超导材料分析
  
  无液氦综合物性测量系统(PPMS DynaCool) 高分辨冷场发射扫描电子显微镜(SEM) 高分辨分析型场发射扫描电镜(SEM) 磁学测量系统(MPMS 3) 无液氦稀释制冷机(Triton-500) 角分辨光电子能谱(ARPES) 环境控制原子力显微镜(AFM) 无液氦制冷机(Teslatron PT14T50mm) 反射式高能电子衍射(RHEED) 低温探针台(CRX-4K) 低能电子衍射(LEED) X射线光电子谱(XPS) 扫描隧道显微镜(STM) X射线多晶衍射仪(PXRD)
  
  热电及磁性材料分析
  
  无液氦综合物性测量系统(PPMS DynaCool) 塞贝克系数/电阻测量系统磁学测量系统(MPMS 3) 无液氦稀释制冷机(Triton-500) 环境控制原子力显微镜(AFM) 无液氦制冷机(Teslatron PT14T50mm) 同步热分析仪(TGA-DSC) X射线光电子谱(XPS) 差示扫描量热仪(DSC) 低温闪射法导热仪(LFA) X射线多晶衍射仪(PXRD) 高温闪射法导热仪(LFA HT)
  
  金属材料分析
  
  无液氦综合物性测量系统(PPMS DynaCool) 高分辨冷场发射扫描电子显微镜(SEM) 磁学测量系统(MPMS 3) 高分辨分析型场发射扫描电镜(SEM) 无液氦稀释制冷机(Triton-500) 环境控制原子力显微镜(AFM) 无液氦制冷机(Teslatron PT14T50mm) 同步热分析仪(TGA-DSC) 差示扫描量热仪(DSC) X射线光电子谱(XPS) X射线多晶衍射仪(PXRD) 高温闪射法导热仪(LFA HT) 电子万能试验机
  
  纳米材料分析
  
  比表面积及孔隙分析仪高分辨冷场发射扫描电子显微镜(SEM) 广角动态光散射仪(WADLS) 瞬态/稳态荧光光谱仪(FLS) 高分辨分析型场发射扫描电镜(SEM) 流变仪环境控制原子力显微镜(AFM) 角分辨光电子能谱(ARPES) 反射式高能电子衍射(RHEED) 同步热分析仪(TGA-DSC) 低能电子衍射(LEED) 差示扫描量热仪(DSC) X射线光电子谱(XPS) 扫描隧道显微镜(STM) 电子万能试验机 X射线小角散射仪(SAXS) 低温闪射法导热仪(LFA)
  
  新能源材料分析
  
  比表面积及孔隙分析仪高分辨冷场发射扫描电子显微镜(SEM) 高分辨分析型场发射扫描电镜(SEM) 环境控制原子力显微镜(AFM) 同步热分析仪(TGA-DSC) 差示扫描量热仪(DSC) X射线光电子谱(XPS) 电化学工作站紫外-可见光谱电化学测试系统高温闪射法导热仪(LFA HT) X射线多晶衍射仪(PXRD) 低温闪射法导热仪(LFA)
  
  高分子材料分析
  
  高分辨冷场发射扫描电子显微镜(SEM) 广角动态光散射仪(WADLS) 瞬态/稳态荧光光谱仪(FLS) 高分辨分析型场发射扫描电镜(SEM) 环境控制原子力显微镜(AFM) 同步热分析仪(TGA-DSC) 差示扫描量热仪(DSC) X射线光电子谱(XPS) 动态热机械分析仪旋转流变仪电子万能试验机 X射线小角散射仪(SAXS) 低温闪射法导热仪(LFA)
  
  生物功能材料分析
  
  广角动态光散射仪(WADLS) 瞬态/稳态荧光光谱仪(FLS) 流变仪同步热分析仪(TGA-DSC) 差示扫描量热仪(DSC) X射线多晶衍射仪(PXRD) 等温滴定微量热仪(ITC) 电子万能试验机双微焦斑单晶XRD(SCD) 液态金属靶单晶XRD(MJ SCD) 低温闪射法导热仪(LFA)

设备功能分类-产业支撑

先进材料分析

拓扑量子材料分析

超导材料分析

热电及磁性材料分析

金属材料分析

纳米材料分析

新能源材料分析

高分子材料分析

生物功能材料分析

当前位置: 首页 >> 仪器设备 >> 正文

角分辨光电子能谱（ARPES）

仪器编号：

联系方式：13185052735

放置地点：西湖大学(云谷校区)E10-B107

开放范围：校内外

自主操作送样检测

实验室：超高真空互联表面实验室

职位：

邮箱：linjiaqi@westlake.edu.cn

基本信息 Basic
收费标准 Charge
样品要求 Request of sample
文件下载 Download

生产厂家	Fermi/Scienta	型号	定制
制造国家	中国/瑞典	分类号	010899
放置地点	西湖大学(云谷校区)E10-B107	出厂日期	2021/11/05
购置日期	2021/11/04	入网时间	2021/11/05
主要规格及技术指标	1.五轴样品台 [Manipulator with 5-axis] 2.紫外光源：Xe灯/Kr灯/激光 [UV source: Xe light/Kr light/Laser] 3.温度范围4-300K [Temperature：4-300K]
主要功能及特色	1.用于材料表面能带结构的测量（ARPES）[Band dispersion measurement with ARPES] 2.用于材料表面重构的表征（LEED）[Low energy electron diffraction(LEED)] 3.自旋分辨的ARPES测试(暂未开放) [Spin-resolved ARPES(in prepration)] 4.电子能量损失谱(暂未开放) [Electron energy loss spectra (in prepration)]

类型	项目	细则	校内收费	校外收费	说明
自主上机	微区能带表征自旋能带表征低能电子衍射能量损失谱	需预约并经过培训和考核；按实际占用机时计费，包括升降温和样品传入时间	800 元/时单日最高8000	1000 元/时单日最高10000	循环回收的液氦按市场价的一半和150元/L两者价低者，单独额外计费，不提供耗材



委托测试	微区能带表征自旋能带表征低能电子衍射能量损失谱	按实际占用机时计费，包括升降温和样品传入时间	1000 元/时	1350 元/时	循环回收的液氦按市场价的一半和150元/L两者价低者，单独额外计费，不提供耗材



培训	仪器原理、基本操作、数据采集、费米面测量、能带表征、自旋极化测量	一对一/一对二培训；同等内容的第二次培训，收费1.5倍	1000 元/时	1350元/时

单晶(薄膜或可解理的块材）

Single crystal（Thin film or cleavable block）

•原则上要导电(至少能够将样品表面接地)

Should be conductivity(At least surface can be grounded)

•尺寸：0.1mm*0.1mm以上(通常建议不低于1mm*1mm)

Size:>0.1*0.1mm (>1*1mm suggested)

•可通过解理/退火获得新鲜表面或通过超高真空传输保持洁净的表面

Clean surface can be obtained by cleave/anneal/UHV transfer

1、《ARPES测试项目申请表》

2、《角分辨光电子能谱ARPES标准操作规程V1.3》

附件【APRES测试项目申请表.docx】已下载次
附件【R013 角分辨光电子能谱ARPES标准操作规程V1.3.pdf】已下载次

校内连接: 实验室与科研设施部; 生物医学实验技术中心; 先进微纳加工与测试平台; 分子科学公共实验平台; 实验动物中心; 高性能计算中心

校外连接: 清华大学仪器共享服务平台; 上海交通大学分析测试中心; 浙江大学大型仪器共享平台

联系地址：浙江杭州市西湖区墩余路600号

西湖大学云谷校区

邮编: 310030

邮箱：iscps@westlake.edu.cn

版权所有 © 西湖大学浙ICP备16029590号

您是第：位访客