Language
仪器预约 手机微信
当前位置: 首页 >> 新闻资讯 >> 技术专题 >> 正文

新闻资讯

设备功能分类-科技支撑

设备功能分类-科技支撑

表面分析
微区分析
成分分析
结构鉴定
物性分析
原位分析
样品制备

设备功能分类-产业支撑

设备功能分类-产业支撑

先进材料分析
当前位置: 首页 >> 新闻资讯 >> 技术专题 >> 正文

ARPES 送样测试前需知

时间:2026-03-26 作者: 点击:


ARPES 送样测试前需知
角分辨光电子能谱(ARPES)能同时精确测量光电子的能量与发射角度,直接给出材料中电子的能带结构 \(E_{\mathbf{k}}\) 与费米面。它是唯一可在动量空间直接表征电子态的实验手段,能揭示电子关联、自旋与拓扑等量子材料的核心电子行为。它对测试样品要求很高,送样前请注意以下内容。

样品

对样品的物性要求

  • 首先必须是单晶或单晶薄膜,不能测试粉末。角分辨的目的是确定电子出射动量,粉末晶粒各向取向杂乱,失去了角分辨的测试意义。

  • 样品需要导电。ARPES 测试过程中光电子不断从样品表面逸出,在体内产生光电流,需要通过样品与衬底、基座的接触将电流引走,以避免荷电效应对峰位和峰宽的影响。光电流与 ARPES 测试条件(光源、温度等)相关,一般在 nA 量级。若样品接地电阻小于 100 k\(\Omega\),由此产生的电压应小于 1 meV。对于更绝缘的样品,一方面需用导电胶将样品表面接地,另一方面可尝试在高温下测量,通过热激发缓解荷电问题。若是大能隙绝缘体(如金刚石),ARPES 无法测试。若需进行低温(4 K – 20 K)测试,需确保样品在该温度下未完全进入绝缘态,否则即使室温导电,低温下仍可能出现严重荷电。

样品该如何准备

  • 几何尺寸与平整度。平整度方面,样品表面须具有光学平整度——若表面崎岖不平,出射电子的局部法线方向会发生偏移,导致动量测量偏差,能带变模糊。尺寸方面,建议为 \(1\,\text{mm} \times 1\,\text{mm}\) 至 \(3\,\text{mm} \times 3\,\text{mm}\)。过小(小于 0.5 mm)会导致寻找样品信号困难,尤其是在非空间分辨的 ARPES 系统上。

  • 晶格取向与对中。角分辨测量须对应到晶格的布里渊区。建议用户提供 Laue(劳厄)衍射结果,明确解理面(通常为极性面)及面内晶轴方向。粘样品时,最好让某一晶轴(如 \(a\) 轴)与样品托边缘平行,以便在转动样品台时快速定位到高对称线。

  • 样品制备。ARPES 对表面极为敏感。即使是完全干净的表面,在 \(10^{-11}\,\text{mbar}\) 真空下,测试过程中表面也会逐渐吸附腔内气体,导致能带信号逐渐模糊直至消失(即"样品死了")。因此测试时需要获得干净的表面。

    • 可解理样品(具有明确解理面的单晶):在真空室内解理。解理前需用环氧导电银胶(EPO-TEK H20E)或具有更强解理力的 Torr Seal(Agilent 9530001)胶将解理棒(如陶瓷柱)粘在样品表面。若使用绝缘胶,后续需喷涂石墨以保证样品和样品托之间的导电性。

    • 不可解理样品:可尝试先机械磨平,再在真空处理腔内进行多次氩刻和退火。

    • 薄膜样品:部分薄膜可通过除气退火去除表面吸附气体,例如外延石墨烯在 250–400\(^\circ\)C 退火即可获得干净表面。其他方式包括覆盖易退火除去的元素(如 Se),或在手套箱中用惰性气体 Ar 保护后,再除气退火去除表面 Ar 原子。需要退火时,薄膜样品与测试托之间应避免使用胶水固定,通常用螺丝或点焊钽片固定。此外 ARPES 也可测试原位制备的薄膜,通过超高真空互联装置或超高真空 Suitcase 转移。

E3E3
单晶解理和薄膜固定方式

光源

ARPES 常用三种光源:同步辐射、紫外气体电离光源和激光。实验室常用的为后两者,其光子能量比同步辐射小,对所能探测的布里渊区范围及结合能范围均有限制。由能量守恒和动量守恒,可得 ARPES 出射电子的能量和动量公式:

\[\begin{aligned} E_{\text{kin}} &= h\nu - \Phi - E_{\text{B}} \\ \hbar k_{\|} &= \sqrt{2m_{\text{e}} \cdot E_{\text{kin}}} \cdot \sin\theta \end{aligned}\]
光电子出射和分析器
光电子出射和分析器

式中,\(E_{\text{kin}}\) 为光电子动能,\(h\nu\) 为入射光能量,\(\Phi\) 为材料功函数,\(E_{\text{B}}\) 为光电子相对于费米面的结合能。\(\theta\) 为出射电子与样品表面法线的夹角(如图)。\(\hbar k_{\|}\) 为出射电子平行于样品表面的动量,等于电子在材料内部的动量。

光子能量对探测范围的限制

实验室现有光源包括:HeI(21.2 eV,预计 2026 年 7 月到货安装)、Kr 灯(10.02 eV)和激光(6.2 eV)。一般材料功函数约 4.5 eV,结合分析器的能力,HeI 可探测费米面以下约 10 eV 的电子,Kr 灯约 3 eV,激光仅约 0.3 eV。

结合出射电子动量与常规材料布里渊区(BZ)大小,以及样品台转动范围和分析器 \(\pm 15^\circ\) 的探测角度,HeI 可覆盖绝大部分材料的第一 BZ;Kr 灯即使转动到极限角度,也难以触及所有第一 BZ 的高对称点;激光通常只能探测 BZ 中心 \(\Gamma\) 点附近区域。

面外动量的限制

ARPES 实验中,样品与真空界面的存在打破了面外方向(\(z\) 方向)的平移对称性,导致面外动量 \(\hbar k_{\perp}\) 不守恒。电子在固体内部的动能高于真空中动能,其差值称为内势 \(V_0\):

\[\hbar|k_{\perp}| = \sqrt{2m_{\text{e}} \cdot \left(E_{\text{kin}} \cdot \cos^2\theta + V_0\right)}\]

\(V_0\) 为经验值,大多数晶体材料约为 10–15 eV。在实验上,改变入射光子能量可观察到能带结构在倒空间沿 \(k_z\) 方向移动;当能带呈周期性变化时,对应倒格子宽度为 \(2\pi/c\),结合上式可反推内势。改变光子能量只能到同步辐射光源;实验室光源只能确定 \(k_{\|}\),无法确定 \(k_{\perp}\) 的具体位置,对能带色散较强的三维材料无法做详尽表征。

探测深度

光电子须穿过材料并逃离表面,且不发生非弹性碰撞,才能形成可检测的 ARPES 信号。ARPES 的探测深度由电子在固体中的非弹性平均自由程决定,该自由程远小于光的穿透深度,且遵循与光电子动能(可近似视为光子能量)相关的普适曲线。对于 HeI 灯(21.2 eV),探测深度约几个原子层(埃米量级);Kr 灯(10.02 eV)约几个纳米;激光(6.2 eV)可达近百纳米。

5E6C
电子平均自由程与光电子动能的普适曲线

参考文章:Angle-resolved photoemission spectroscopy, Nature Reviews Methods Primers(2022),https://www.nature.com/articles/s43586-022-00133-7

上一条:扫描电镜镜筒内外探测器的选择

下一条:电子能量损失谱 · X射线光电子能谱 · 能量色散X射线能谱 能量信息的本质差异与精细结构来源

关闭

联系地址:浙江杭州市西湖区墩余路600号

                     西湖大学云谷校区

邮    编: 310030

邮    箱:iscps@westlake.edu.cn

版权所有 © 西湖大学  浙ICP备16029590号

您是第: 位访客