平台简介-西湖大学物质科学公共实验平台

当前位置: 首页 >> 平台概况 >> 平台简介

平台概况

设备功能分类-科技支撑

表面分析
- 分子束外延与原位表面分析
  
  高通量激光分子束外延(LMBE) 角分辨光电子能谱(ARPES) 反射式高能电子衍射(RHEED) 低能电子衍射(LEED) X射线光电子谱(XPS) 扫描隧道显微镜(STM) 高通量氧化物分子束外延(OxMBE)
  
  高通量薄膜样品制备
  
  高通量激光分子束外延(LMBE) 高通量氧化物分子束外延(OxMBE)
  
  低温原位能带-形貌-输运-组分-价态联合分析
  
  扫描隧道显微镜(STM) X射线光电子能谱(XPS) 角分辨光电子能谱(ARPES)
  
  高分辨三维自旋电子能带分析
  
  角分辨光电子能谱(ARPES)
  
  样品形貌-输运-界面电子态分析
  
  扫描隧道显微镜(STM)
  
  材料组分分布-价态-深度剖析
  
  X射线光电子能谱(XPS)
微区分析
- 微区形貌-粒径-三维尺寸分析
  
  高分辨冷场发射扫描电子显微镜(SEM) 高分辨分析型场发射扫描电镜（SEM）场发射环境扫描电镜（SEM）环境控制原子力显微镜(AFM) 高分辨薄膜XRD(HR-TF XRD)
  
  微区成分分析
  
  高分辨冷场发射扫描电子显微镜(SEM) 高分辨分析型场发射扫描电镜（SEM）场发射环境扫描电镜（SEM）高分辨薄膜XRD(HR-TF XRD)
  
  微区结构分析
  
  高分辨分析型场发射扫描电镜（SEM）环境控制原子力显微镜(AFM)
  
  微区缺陷分析
  
  环境控制原子力显微镜(AFM) 高分辨分析型场发射扫描电镜（SEM）
  
  微区电学-磁学-摩擦学-力学等分析
  
  环境控制原子力显微镜(AFM)
成分分析
- 有机成分分析
  
  双微焦斑单晶XRD(SCD) 液态金属靶单晶XRD(MJ SCD) 高分辨透射及PDF散射系统(PDF) X射线光电子谱(XPS)
  
  无机成分分析
  
  X射线多晶衍射仪(PXRD) 原位XRD(in-situ XRD) X射线光电子谱(XPS)
  
  元素分析
  
  高分辨冷场发射扫描电子显微镜(SEM) 高分辨分析型场发射扫描电镜（SEM）场发射环境扫描电镜（SEM） X射线光电子谱(XPS) X射线荧光光谱仪(XRF)
  
  定量分析
  
  X射线多晶衍射仪(PXRD) 原位XRD(in-situ XRD) 高分辨透射及PDF散射系统(PDF) X射线光电子谱(XPS)
结构鉴定
- 有机化合物结构分析
  
  双微焦斑单晶XRD(SCD) 液态金属靶单晶XRD(MJ SCD) 高分辨透射及PDF散射系统(PDF)
  
  无机材料结构分析
  
  X射线多晶衍射仪(PXRD) 原位XRD(in-situ XRD)
  
  生物分子结构分析
  
  双微焦斑单晶XRD(SCD) 液态金属靶单晶XRD(MJ SCD) 高分辨透射及PDF散射系统(PDF)
  
  晶胞参数-晶型分析
  
  X射线多晶衍射仪(PXRD) 双微焦斑单晶XRD(SCD) 液态金属靶单晶XRD(MJ SCD) 高分辨透射及PDF散射系统(PDF)
  
  晶体取向-织构分析
  
  高分辨分析型场发射扫描电镜（SEM）劳厄背散射仪(Laue)
物性分析
- 极低温强磁场物性分析
  
  无液氦综合物性测量系统(PPMS DynaCool) 无液氦稀释制冷机(Triton-500) 低温探针台(CRX-4K) 磁学测量系统（MPMS3）无液氦制冷机（TeslatronPT））
  
  热学性能分析
  
  无液氦综合物性测量系统(PPMS DynaCool) 同步热分析仪(TGA-DSC) 差示扫描量热仪(DSC) 低温闪射法导热仪(LFA) 高温闪射法导热仪(LFA HT) 等温滴定微量热仪(ITC) 动态热机械分析仪旋转流变仪
  
  力学性能分析
  
  电子万能试验机旋转流变仪动态热机械分析仪
  
  电学性能分析
  
  塞贝克系数/电阻测量系统无液氦综合物性测量系统(PPMS DynaCool) 无液氦稀释制冷机(Triton-500) 低温探针台(CRX-4K) 电化学工作站紫外-可见光谱电化学测试系统无液氦制冷机（TeslatronPT-14T））
  
  磁学性能分析
  
  磁学测量系统（MPMS3）综合物性测量系统（PPMS-16T)）
  
  光学性能分析
  
  广角动态光散射仪(WADLS)
  
  粒度、密度、弛豫、扩散分析
  
  广角动态光散射仪(WADLS)
  
  应力、应变分析
  
  原位XRD(in-situ XRD) 高分辨薄膜XRD(HR-TF XRD) 动态热机械分析仪
  
  荧光寿命分析
  
  比表面积、孔隙率、孔径分析
  
  比表面积及孔隙分析仪
原位分析
- 催化及合成过程分析
  
  原位XRD(in-situ XRD)
  
  动力学分析
  
  场发射环境扫描电镜（SEM）差示扫描量热仪(DSC) 原位XRD(in-situ XRD)
  
  原位电化学分析
  
  环境控制原子力显微镜(AFM) 电化学工作站原位XRD(in-situ XRD)
  
  变温相变、反应分析
  
  场发射环境扫描电镜（SEM）原位XRD(in-situ XRD)
  
  超高真空材料原位生长及分析
  
  高通量激光分子束外延(LMBE) 角分辨光电子能谱(ARPES) 反射式高能电子衍射(RHEED) 低能电子衍射(LEED) X射线光电子谱(XPS) 扫描隧道显微镜(STM) 高通量氧化物分子束外延(OxMBE)
样品制备
- 电镜样品制备
  
  离子溅射镀膜仪徕卡高真空镀膜仪离子研磨仪
  
  薄膜、块体样品制备
  
  高通量激光分子束外延(LMBE) 高通量氧化物分子束外延(OxMBE) 光学浮区炉(OFZ) 真空自动封管系统

设备功能分类-科技支撑

表面分析

薄膜、块体样品制备

设备功能分类-产业支撑

先进材料分析
- 拓扑量子材料分析
  
  无液氦综合物性测量系统(PPMS DynaCool) 高分辨冷场发射扫描电子显微镜(SEM) 高分辨分析型场发射扫描电镜(SEM) 无液氦稀释制冷机(Triton-500) 角分辨光电子能谱(ARPES) 环境控制原子力显微镜(AFM) 无液氦制冷机(Teslatron PT14T50mm) 反射式高能电子衍射(RHEED) 低温探针台(CRX-4K) 低能电子衍射(LEED) X射线光电子谱(XPS) 扫描隧道显微镜(STM) X射线多晶衍射仪(PXRD)
  
  超导材料分析
  
  无液氦综合物性测量系统(PPMS DynaCool) 高分辨冷场发射扫描电子显微镜(SEM) 高分辨分析型场发射扫描电镜(SEM) 磁学测量系统(MPMS 3) 无液氦稀释制冷机(Triton-500) 角分辨光电子能谱(ARPES) 环境控制原子力显微镜(AFM) 无液氦制冷机(Teslatron PT14T50mm) 反射式高能电子衍射(RHEED) 低温探针台(CRX-4K) 低能电子衍射(LEED) X射线光电子谱(XPS) 扫描隧道显微镜(STM) X射线多晶衍射仪(PXRD)
  
  热电及磁性材料分析
  
  无液氦综合物性测量系统(PPMS DynaCool) 塞贝克系数/电阻测量系统磁学测量系统(MPMS 3) 无液氦稀释制冷机(Triton-500) 环境控制原子力显微镜(AFM) 无液氦制冷机(Teslatron PT14T50mm) 同步热分析仪(TGA-DSC) X射线光电子谱(XPS) 差示扫描量热仪(DSC) 低温闪射法导热仪(LFA) X射线多晶衍射仪(PXRD) 高温闪射法导热仪(LFA HT)
  
  金属材料分析
  
  无液氦综合物性测量系统(PPMS DynaCool) 高分辨冷场发射扫描电子显微镜(SEM) 磁学测量系统(MPMS 3) 高分辨分析型场发射扫描电镜(SEM) 无液氦稀释制冷机(Triton-500) 环境控制原子力显微镜(AFM) 无液氦制冷机(Teslatron PT14T50mm) 同步热分析仪(TGA-DSC) 差示扫描量热仪(DSC) X射线光电子谱(XPS) X射线多晶衍射仪(PXRD) 高温闪射法导热仪(LFA HT) 电子万能试验机
  
  纳米材料分析
  
  比表面积及孔隙分析仪高分辨冷场发射扫描电子显微镜(SEM) 广角动态光散射仪(WADLS) 瞬态/稳态荧光光谱仪(FLS) 高分辨分析型场发射扫描电镜(SEM) 流变仪环境控制原子力显微镜(AFM) 角分辨光电子能谱(ARPES) 反射式高能电子衍射(RHEED) 同步热分析仪(TGA-DSC) 低能电子衍射(LEED) 差示扫描量热仪(DSC) X射线光电子谱(XPS) 扫描隧道显微镜(STM) 电子万能试验机 X射线小角散射仪(SAXS) 低温闪射法导热仪(LFA)
  
  新能源材料分析
  
  比表面积及孔隙分析仪高分辨冷场发射扫描电子显微镜(SEM) 高分辨分析型场发射扫描电镜(SEM) 环境控制原子力显微镜(AFM) 同步热分析仪(TGA-DSC) 差示扫描量热仪(DSC) X射线光电子谱(XPS) 电化学工作站紫外-可见光谱电化学测试系统高温闪射法导热仪(LFA HT) X射线多晶衍射仪(PXRD) 低温闪射法导热仪(LFA)
  
  高分子材料分析
  
  高分辨冷场发射扫描电子显微镜(SEM) 广角动态光散射仪(WADLS) 瞬态/稳态荧光光谱仪(FLS) 高分辨分析型场发射扫描电镜(SEM) 环境控制原子力显微镜(AFM) 同步热分析仪(TGA-DSC) 差示扫描量热仪(DSC) X射线光电子谱(XPS) 动态热机械分析仪旋转流变仪电子万能试验机 X射线小角散射仪(SAXS) 低温闪射法导热仪(LFA)
  
  生物功能材料分析
  
  广角动态光散射仪(WADLS) 瞬态/稳态荧光光谱仪(FLS) 流变仪同步热分析仪(TGA-DSC) 差示扫描量热仪(DSC) X射线多晶衍射仪(PXRD) 等温滴定微量热仪(ITC) 电子万能试验机双微焦斑单晶XRD(SCD) 液态金属靶单晶XRD(MJ SCD) 低温闪射法导热仪(LFA)

设备功能分类-产业支撑

先进材料分析

西湖大学物质科学公共实验平台秉承“先进、科学、创新”理念，聚焦服务于物质科学前沿领域中能源、环境、生物医药材料等相关的研究，辅以大型共享设施与设备和资深专业人才，提供整体系统的表征分析技术支撑。在云栖校区，平台重点密切围绕西湖大学物质科学相关学科的建设方向，在形貌表征、结构分析、表面分析、成分分析、磁电物性、热力光综合性能表征和材料制备等多个领域配备了系列高端的先进设备。目前平台拥有超高真空互联系统（集成有STM、Laser-ARPES、XPS、OxMBE、PLD）、单晶/薄膜/粉末XRD、PDF、PPMS、MPMS、稀释制冷机、SEM、AFM、激光导热仪、流变仪、动态光散射仪、浮熔区单晶生长炉等尖端科研设备，并配有经验丰富的高水平专业人才，不但兼顾常规分析表征的研究需求，更能够追踪学科前沿，不断进取，为当今世界最前沿的基础科学研究提供良好的表征支撑。

在未来的云谷校区，物质科学公共实验平台大型专业化测试设备将在前期基础上进一步扩容，重点加强先进材料形貌结构分析关键设备和能力的建设与拓展，同时立足于设备功能的持续创新，大力开展特色设备的自主研发；服务目标上，平台人员将秉承“质量第一、服务第一”理念，努力使平台成为科研人员认可的运行高效与技术先进的支撑平台。