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X射线实验室 (X-Ray Diffraction Lab)

时间:2019-07-09 作者: 点击:

    X射线衍射室旨在提供以X射线为介质从原子尺度来剖析物质的三维空间结构分析测试,具有无损、无污染、快捷、测量精度高、重现率好的特点,被广泛应用于化学、材料、物理、化工、环境、纳米、生命、药学、医学、农学等交叉学科,为人们探索有机/无机化合物、天然产物分子、生物小分子、药物分子、功能薄膜等材料的结构研究提供了专业高效的分析技术。本实验室现有劳厄背散射仪一台及衍射仪五台,分别为X射线多晶衍射仪、双微焦斑X射线单晶衍射仪、原位X射线衍射仪、高分辨薄膜X射线衍射仪、高分辨透视及PDF散射系统。本实验室设备功能齐全、性能先进、开放度高,致力于支撑科研院所、大专院校和社会机构的科学研究,提供高质量的测试与技术服务。本实验室注重仪器维护、技术发展、功能开发及人才培养工作,聚焦于科学研究和测试服务,主要由以下两方面开展工作:

(一)科研支撑:定位于提供功能分子、天然产物、高选择性催化剂、功能材料及纳米材料等原子、分子水平的高分辨结构表征和原位相变分析,探索分子空间结构、分子间相互作用及动力学研究,具体测试项目包括:

1、单晶XRD:晶胞参数测定、晶体取向、结构鉴定、有机官能团分析、复杂晶体结构测定/解析、绝对构型测定、粉末衍射物相鉴定;

2、高分辨薄膜XRD :薄膜取向(Phi scan)、薄膜缺陷及位错密度(Rocking curve)、物相鉴定(2theta-omega)、快速倒易空间成像(RSM)、应力及弛豫分析、膜厚分析(反射率XRR)、薄膜掠入射(GID)、面内分析、微区物相分析;

3、劳厄背散射仪:快速晶向分析;

4、常规多晶XRD:物相分析、晶胞参数、晶粒尺寸、结晶度、定量分析、聚合物分析(低角衍射)

5、高分辨透射与PDF散射系统: 低吸收化合物的定性定量分析、结构精修(高分辨透射XRD)、短程有序结构研究(PDF);

6、原位XRD:变温物相、晶粒尺寸、晶胞参数及动力学分析、电池充放电物相分析、原位电化学反应物相分析。

(二)产业支撑:致力于支撑生物医药、精细化工、新能源材料企业的研发,解析其前驱体/中间体的结构,为研究其性能提供技术支持,具体支撑如下:

1、药物分子绝对构型的测试及结构解析、药物晶型及重金属残留分析;

2、天然产物及全合成药物的结构研究;

3、新能源材料及金属材料的氧化层分析及结构分析。

本实验室的目标是建立一个先进、高效和便捷的X射线衍射分析系统,为国内外的基础研究提供一流支撑的X射线衍射技术平台。


1FDA4


X-ray Diffraction Lab facilitates the analysis of 3-D structures at atomic scale for crystallines, unrevealing properties of functional materials via investigating inter/intra-molecular interaction. It’s devoted to exploring methodology and techniques in high-resolution and in-situ XRD characterization for small organic and/or inorganic molecules,  to support the edge-cutting research in biological study, physics, chemistry, material science and medicine/pharmaceutical.  

Our X-ray Laboratory provides access to state-of-the-art equipment and technologies, hosts X-ray diffraction application training, and offers advice and technical assistance in crystal growth, data collection, structure determination and refinement for small molecules. We welcome all Westlake affiliates as well as external users. 

1. Research support:

1) Single crystal XRD: analysis of unit cell parameter, crystal orientation, absolute structure determination and powder diffraction for organic compounds and MOFs;

2) High-resolution Thin-Film XRD: orientation (Phi scan), film quality (Rocking curve), phase identification (2theta/omega and GID), relaxation (RSM), film thickness (XRR), in-plane analysis and micro area study.

3) Back-reflection Laue camera system: rapid orientation analysis

4) Powder XRD: quantitative/qualitative analysis, unit cell determination, grain size and crystallinity characterization

5) High-resolution powder XRD and PDF scattering system

Quantitative/qualitative analysis for low absorbance, local structure or disordered structure analysis

6) in-situ XRD: phase identification during phase transformation, grain size and unit cell parameter analysis, battery charging/discharging study, in-situ electrochemistry study.

2. Industrial support:

1) Structural and crytallographic analysis for Pharmaceutical and medicine molecules;

2) Structure analysis for natural products;

3) XRD characterization for novel function materials, for instance, new energy materials and metal derivatives.



 

 



 

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                     西湖大学云谷校区

邮    编: 310030

邮    箱:iscps@westlake.edu.cn

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