本视频内容主要介绍LFM侧向力模式获得高分辨晶格像的应用。采用云母作为样品，使用ContDLC探针（一种接触式AFM探针，具有类似金刚石的针尖涂层。 K： 0.2 N/m，f: 13 kHz ） 。Lateral 模式（Lateral Force Microscopy， 侧向力模式） 是接触模式的一种。除了测量摩擦力，它也常用来获取二维材料或晶体表面的高分辨晶格像。 其晶格成像的原理是探针和样品在非常小的扫描范围内，以晶格的周期发生 stick-slip 粘滑现象。
大气环境商用 AFM：
形貌通道几乎得不到原子晶格高度像，仅 LFM侧向力模式，可以观察晶格周期性，信号来源是摩擦各向异性，不是原子的高度起伏。
目前AFM达到的最高的分辨率是化学键，在超高真空里边用调频的AFM来实现。
