西湖大学物质科学公共实验平台成功举办扫描电镜阴极荧光与透射电镜电子直接探测相机应用分享研讨会
2025年6月24日，西湖大学成功举办了一场聚焦电子显微技术前沿应用的专题研讨会。本次会议由知名科学仪器公司Gatan提供支持，重点介绍了直接电子探测技术与扫描电镜阴极荧光系统的最新进展与应用实践，吸引了众多校内外师生及科研人员积极参与。
活动亮点回顾
聚焦核心技术：低剂量成像与高灵敏度分析
Gatan公司应用经理袁昊博士在主题报告中深入浅出地讲解了直接电子探测技术的革命性优势。相比传统技术，该技术具备单电子级超高灵敏度与卓越的信噪比，使得科研人员能在极低的电子束剂量下，对辐照敏感材料（如生物样品、某些高分子、MOF材料等）进行高质量的透射电镜（TEM）成像和电子能量损失谱（EELS）分析。这为解决传统TEM表征中的样品损伤难题提供了强大新工具。袁博士结合具体应用案例，展示了该技术在实现低剂量高分辨成像和高速、高信噪比EELS分析方面的突破性成果。
拓展表征维度：扫描电镜阴极荧光（CL）应用
研讨会的第二场报告系统介绍了集成于扫描电镜（SEM）平台的阴极荧光系统。报告详细阐述了其工作原理，并分享了在材料科学、半导体、地质学等领域的关键应用案例，展示了该技术在获取材料发光特性、缺陷分析、纳米结构表征等方面的独特价值，为与会者提供了SEM表征能力的重要扩展方向。
理论与实操并重：深度体验前沿设备
下午的上机演示环节是本次研讨的重头戏。在专业工程师指导下，与会者近距离观摩并体验了搭载直接电子探测相机的设备操作。演示内容涵盖了核心技术应用，包括能量过滤TEM成像和电子能量损失谱（EELS）的采集与分析，通过亲手操作和实时结果观察，参与者对直接电子探测技术在提升成像质量与分析效率方面的优势有了更直观和深刻的理解。
反响热烈，共促发展
活动现场气氛活跃，与会者在签到交流环节及报告间隙积极互动，就技术细节、应用场景与未来发展展开了深入探讨。参与者普遍反馈，本次研讨会内容充实、前沿性强，理论讲解清晰透彻，上机演示直观实用，为他们在各自研究领域中应用这些先进表征技术提供了重要的理论指导和实践参考。
西湖大学将持续致力于搭建高水平的学术交流平台，引进和展示国际前沿科学技术，促进学科交叉融合与创新研究。期待未来与学界和产业界伙伴开展更多合作，共同推动科研仪器技术的进步与应用拓展。
敬请关注西湖大学后续活动！
如有EELS相关咨询和送样测试，请联系蒋齐可，联系电话18842815402（微信同号）。
如有扫描电镜阴极荧光（SEM-CL）相关咨询和送样测试，请联系曹文菁，联系电话15951937007。
研讨会资料见链接：https://iscps.westlake.edu.cn/info/1149/2291.htm
