2025年4月27日（周日），西湖大学物质科学公共实验平台成功举办“面内/面外双模联动——布鲁克D8 Discover衍射仪在薄膜材料分析中的创新应用”专题讲座。本次讲座由物质科学平台周桃飞博士主持，特邀布鲁克AXS衍射分析专家孟璐博士担任主讲，深入解析高分辨X射线衍射技术的核心优势及其在科研与产业中的实践价值。活动通过理论讲解、案例研讨与实验室上机演示相结合，为校内外师生及科研人员呈现了一场技术与应用深度融合的学术盛宴。
布鲁克D8 Discover高分辨X射线衍射仪凭借其卓越的灵敏度和分辨率，已成为薄膜、光学薄膜及半导体材料结构分析的关键工具。该设备通过面内（in-plane）与面外（out-of-plane）双模式联动，可实现对材料横向晶格参数、应力分布、垂直取向及多层膜结构的精准解析，为微电子、光电子及先进镀膜领域的研发提供重要数据支撑。
西湖大学物质科学平台已安装最新配置BrukerD8 Discover plus仪器，致力于推动校内外科研团队在材料科学前沿领域的创新探索，此次讲座旨在深化科研人员对衍射技术潜力的理解，促进跨领域技术交流。
讲座纪实:孟璐博士结合自身在X射线衍射技术开发与用户支持领域的丰富经验，系统梳理了D8 Discover的核心功能与应用场景：
(1)面内模式创新应用：通过IP-GID分析薄膜样品横向晶格参数，揭示半导体异质结界面特性及光学薄膜层间相互作用机制；
(2)面外模式技术优势：精准表征垂直方向晶体取向、织构演化及多层膜厚度/均匀性，为器件光电性能优化提供关键依据；
(3)前沿案例解析：结合薄膜应变分析、缺陷检测及超薄材料面内/面外快速RSM分析等实际案例，展示该设备在解决复杂材料问题中的独特价值。
互动环节中，参会师生围绕“如何平衡衍射测试效率与分辨率”“半导体材料界面缺陷的表征策略”等问题展开热烈讨论。针对学生提出的“超薄二维材料面内测试挑战”，孟璐博士分享了布鲁克最新的光路优化方案与数据解析技巧，为相关研究提供了新思路。
实践体验:讲座结束后，部分与会者带着自己的研究样品前往物质科学平台XRD实验室E10-B106，近距离观摩学习Bruker D8 Discover的实际操作演示。孟璐博士现场演示了面内/面外模式切换、样品校准及快速RSM、XRR、IP-GID等数据采集流程，并指导研究人员利用配套软件进行拟合分析。参与者通过动手实践，进一步掌握了设备的高效使用技巧与数据分析方法。
结语:本次活动通过“理论+实操”的全链条呈现，不仅加深了科研人员对高分辨衍射技术的理解，更搭建了学术交流与合作的桥梁。西湖大学物质科学平台将持续引进尖端设备与技术资源，助力材料科学、半导体及光学器件领域的原创性研究，为推动学科交叉与产学研融合注入新动能。
联系方式与测试咨询
西湖大学物质科学公共实验平台（云谷校区E10-B106）提供在线预约、样品前处理指导及测试服务支持，
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或联系陈旭老师，邮箱：chenxu@westlake.edu.cn。
