12月23日，物质科学公共实验平台举办培训讲座，蔡司应用工程师黄建柳做“扫描电镜的原理及实用技术交流”的应用报告，介绍了扫描电镜的发展历史，平台目前配置的蔡司Gemini450扫描电镜的结构和特点，以及样品测试参数的选择技巧。
扫描电镜（SEM）可以在微观尺度下观察材料表面的细节信息，通过采集不同的信号，例如SE、BSE、特征X射线、电子衍射信息、CL信号，可以提供样品微观的形貌信息、成分衬度、元素组成与分布、晶面取向和阴极荧光性能。本次培训报告，根据目前物质平台蔡司Gemini450的配置情况，介绍了该设备能够提供的强大表征性能，同时也对样品的准备，观察时条件的选择等实际操作方面提供了大量的培训信息，对广大SEM用户同学提供了生动丰富的经验分享。报告结束后，还提供部分用户的上机实操培训，收到了多个用户的培训申请。
黄健柳，卡尔蔡司电镜高级应用技术工程师，2007年毕业于中国科学技术大学，一直从事扫描电镜测试和维护工作，2017年加入蔡司，现主要在材料科学领域为用户提供SEM,FIB聚焦离子束和HIM氦离子显微镜的应用培训和技术支持等工作。
