8月27日，物质科学公共实验平台邀请浙江工业大学电镜专家朱艺涵教授，做“低剂量电子显微技术在辐照敏感材料结构表征中的应用”报告。在报告中，朱教授介绍了低剂量电子显微技术在COF、MOF等电子束敏感材料体系中高分辨的结构表征工作，利用TEM，形成设计、调控微观功能材料结构来调控宏观性能的表界面表征。
透射电子显微镜（TEM）是用高能电子束作为光源进行放大成像的大型显微分析设备。由于电子的波长远小于光子，其空间分辨率能够达到远高于光学显微镜的水平。目前TEM已经广泛应用于物理、化学、生物、医学、材料等领域。球差校正透射电子显微镜因其亚埃级别的超高空间分辨率，在晶体结构和材料性质的表征上具有更加强大的功能。
多孔材料，例如金属有机框架、共价有机框架、分子筛等这一类功能材料在气体吸附和储存、催化、传感、能源储存和转换等方面有着重要的应用。对于这些孔材料的结构表征传统上极大地依赖于晶体学方法，只能提取出空间平均的结构信息，并且对孔材料结晶度有较高要求。与之相对，采用电子显微镜技术可以在原子尺度直观观察材料的晶体结构和微观局域结构，如表面、界面和缺陷等。但是大部分孔材料对都电子束极其敏感，导致其难以采用电子显微镜表征。实际上，大多数典型的孔材料如金属有机框架和共价有机框架材料在电子剂量达几个到几十个电子每平方埃的时候结构已经被破坏。为了解决这一难题，采用基于直接检测相机的低剂量成像技术，可以直接观察这些电子束敏感孔材料的晶体和局域结构，为探究其构效关系提供了有力的证据。
朱艺涵教授就职于浙江工业大学化工学院。博士毕业于浙江大学化学系，后加入阿卜杜拉国王科技大学担任研究科学家。研究方向主要包括：低剂量电子显微技术的应用；电子显微技术在纳米催化和能源材料中的应用。担任浙江工业大学电镜中心负责人、分析测试中心副主任、浙江省分析测试协会电镜与微结构青委会副主任、工业催化联盟青委会委员。目前在Nat. Mater.、Science、Sci. Adv.、Nat. Commun.、J. Am. Chem. Soc.、Angew. Chem. Int. Ed.、Adv. Mater.、Nano Lett.等国际重要期刊共发表论文100余篇，主编图书分册一部以及参与撰写图书章节3部，获国际催化协会青年科学家奖、美国显微学会主席学者奖等。
