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微聚焦X射线光电子能谱仪Micro-focus X-Ray Photoelectron Spectroscopy, XPS

仪器编号:

联系方式:17803872186

放置地点:云谷校区E10-133A

开放范围:自主测试:校内;送样测试:校内/校外

自主操作 送样检测

实验室:表面物理实验室

职位:

邮箱:zhanghuan02@westlake.edu.cn

仪器编号 联系方式 17803872186
放置地点 云谷校区E10-133A 开放范围 自主测试:校内;送样测试:校内/校外
自主操作 https://share.westlake.edu.cn/lims/!equipments/equipment/index.880 送样检测 https://share.westlake.edu.cn/lims/!equipments/equipment/index.880
实验室 表面物理实验室 职位
邮箱 zhanghuan02@westlake.edu.cn
  • 仪器基本信息
  • 样品要求
  • 收费标准





生产厂家 赛默飞 型号 Nexsa G2
制造国家 美国 分类号
放置地点 云谷校区学术环E10-133A 出厂日期
购置日期 2022/06 入网时间 2023/05/26
主要规格及技术指标

1、本底真空度优于5*10-9mbar

2、单色化AlKαX射线源,光斑尺寸10-400um,分辨率≤0.5 eV

3、测试时可原位加热,范围室温至1073 K,升温速率0-50 K

4、配备全自动样品进样和传输装置;

5、配备同轴/离轴双电子枪,可用于弱磁性和非磁性绝缘样品的荷电中和测量,最佳能量分辨率0.82eV

6、配有Ar离子刻蚀和团簇离子刻蚀,可用于不同敏感性材料的深度剖析;

7、配有紫外光电子能谱(UPS,可用于导电样品的功函数和价带分析;

8、配有原位拉曼光谱仪(Raman),波段为532 nm785 nm,准确度 ±2 cm-1

9、配有原位电镜样品台,可实现XPS + SEM原位转移测试。

主要功能及特色

1. 该系统具备自动进样和样品传输装置、快速样品定位多功能相机系统和高灵敏度探测器,实现高效快速分析样品表面电子态结构信息。
2. 该系统具备微区测试功能,可以针对微米级别的特定区域开展元素组分与电子结构分析,是目前观测薄膜样品元素和价态分布,进而探索其生长机理最有力的工具之一.

3. XPS, Raman, UPS多表征手段原位联用,多角度分析样品。

主要附件及配置



1、样品应为固体材料(粉末、单晶、多晶、薄膜均可)。粉末样品需充分粘牢。

2、磁性/铁磁性材料应事先声明并充分粘牢。

3、样品厚度一般不超过5mm,尺寸一般不超过20mm*50mm。有特殊需求的请提前联系技术员。

























类型 项目 细则 校内 校外
自主上机 自主操作 需预约并经过培训和考核 500元/小时 /
委托测试 常规测试/成像测试/

深度剖析/变角测试/变温测试/Raman测试

/ 750元/小时 1000元/小时
培训 仪器系统培训 1对1或者1对2培训 750元/小时


联系地址:浙江省杭州市西湖区云栖小镇石龙山街18号

邮    编:310024

联系电话:0571-86912897

邮    箱:lhpt@westlake.edu.cn

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