各位老师、同学大家好，平台将于6月13日组织一次FIB-tofSIMS技术相关的workshop，具体如下：
【日程安排】
（1）9:00-11:00 DEMO样品上机演示，地点E10-178
（2）11:30-13:00 应用讲座：FIB-tofSIMS联用技术在材料科学研究中的应用（讲座安排详见海报，讲座提供午餐，需要提前扫码报名）
（3）14:00-17:00 DEMO样品上机演示，TOF-SIMS三维重构数据分析操作演示，地点E10-178
【免费DEMO样品征集】
6月12日17:30前，请有DEMO意向的老师、同学联系盛沛博士（19967426711，微信同号）报名。
【应用讲座简介】
FIB-tofSIMS(聚焦离子束-飞行时间二次离子质谱)技术将高精度聚焦离子束(FIB)与飞行时间二次离子质谱(tof-SIMS)相结合，兼具纳米级加工与高灵敏度成分分析能力。FIB-tofSIMS具有超灵敏的ppm级检出限，可进行轻元素检测；具有纳米级超高空间分辨率，可进行同位素检测，多元素、分子基团的同时检测，三维成分成像(逐层刻蚀+分析) 等，上述优势使其在半导体、材料、能源等领域具有广泛的应用。
本次报告的主要内容：赛默飞FIB-tofSIMS联用技术的工作原理；FIB-tofSIMS相较于其他微观成分检测设备的技术优势；FIB-tofSIMS在各个领域的最新应用案例分享，如锂电池领域、太阳能电池领域、地质领域、金属领域等。
讲座报名二维码：
