理化平台X射线衍射实验室“Bruker D8 Discover 高分辨薄膜X射线衍射仪”已安装调试完毕，试运行阶段（2020.3.9-2020.3.20）向全校征集样品，进行免费测试。
仪器放置地点：4#112
Bruker D8 Discover 高分辨薄膜X射线衍射仪能进行薄膜取向（Phi scan）、薄膜缺陷（Rocking curve）、物相鉴定（2theta-omega）、快速倒易空间成像（RSM）、膜厚分析（XRR）、小角掠射（GID）、面内分析（IP-GID）、微区物相等分析（分析膜厚≥10nm的薄膜）；该设备配备的转靶点焦Cu光源及双探测器（LynxEye探测器和scintillation counter）可大幅度提高测试强度及分辨率；此仪器配有高低温系统TC-DOME，可覆盖-150°C到450°C的低温段及室温到1100°C的高温段的薄膜样品测试。
更多设备信息请查看理化平台网站https://iscps.westlake.edu.cn/info/1024/1201.htm，欢迎大家访问！
测样须知：
1. 不测试有毒性、腐蚀性样品；
2. 块状样品要求：测试面清洁平整，也可是板状、片状，带衬底材料的薄膜或带基材的镀层等原始形状，厚度≤1mm，直径≤2cm。
3. 对于测反射率的样品，一般要求样品大于10mm*10mm，且薄膜的厚度小于100nm。
4. 告知测试的起始角度与测试内容，2θ角扫描范围须在1°～100°之间；
5. 易变质样品需提前与XRD负责人联系，预约测试时间，请注明样品保存条件，如常规、冷冻、干燥、冷藏、避光等。
报名方式：发送邮件至缪晓和老师 miaoxiaohe@westlake.edu.cn，邮件包含样品信息、测试需求、所属课题组等信息。欢迎有需求的老师同学前来咨询，联系人缪晓和老师13071882787，谢谢大家！
