理化平台表面物理分析实验室“X射线光电子能谱 XPS”已安装调试完毕，于2019.12.30-2020.1.12向全校征集样品，进行免费测试，地点4号楼104房间。
XPS是组分测量和价态表征的重要工具。理化平台的XPS，除了0.43eV的能量分辨率和1um的平行成像分辨率外，还具备ISS离子散射谱，用于超薄表面的元素鉴定和同位素鉴定；同轴/离轴双电子枪，用于绝缘样品的荷电中和测量；配有Ar离子刻蚀和团簇离子刻蚀，可用于不同材料的深度剖析；配有反射电子能量损失谱（REELS）,可用于H元素的分析；配有俄歇光电子能谱分析（AES），空间分辨率可达95nm，并能够实现相应的形貌表征功能（SEM）；配有角分辨ARXPS，用于10nm以内各深度的无损XPS分析。
测样须知：
1、样品应为固体材料（粉末、单晶、多晶、薄膜均可），粉末样品需充分粘牢；
2、磁性/铁磁性材料应事先声明并充分粘牢；
3、真空中无挥发性，无释放性；
4、样品厚度一般不超过5mm，尺寸一般不超过20mm*50mm。特殊需求请联系技术员。
5、每个课题组样品数原则上不超过6个，特殊需求请联系技术员。
测样报名方式：发送邮件至朱思源老师邮箱zhusiyuan@westlake.edu.cn，邮件包含样品信息、测试需求、所属课题组等信息。欢迎有需求的老师同学前来咨询，联系人朱思源老师，联系电话13358560163，谢谢大家。
更多设备信息请查看理化平台网站https://iscps.westlake.edu.cn/info/1024/1445.htm，欢迎大家访问！
